作者:Marie-Eve Carré簡介此KWIK(技術訣竅與綜合知識)電路應用筆記提供了解決特定設計挑戰的分步指南。對于給定的一組應用電路要求,本文說明了如何利用通用公式應對這些要求,并使它們輕松擴展到其他類似的應用規格。在任何采樣系統中,例如涉及ADC的測量系統中,有一種稱為混疊的現象,它可能導致... (來源:技術文章頻道)
Sallen-Key濾波器抗混疊架構 2023-8-23 16:22