前往首頁 聯系我們 網站地圖
在用于汽車 SoC 的納米技術中，硅上的大多數缺陷都是由于時序問題造成的。因此，汽車設計中的全速覆蓋要求非常嚴格。為了滿足這些要求，工程師們付出了很多努力來獲得更高的實速覆蓋率。主要挑戰是以盡可能低的成本以高產量獲得所需質量的硅。在本文中，我們討論了與實時測試中的過度測試和測試不足相關... （來源：技術文章頻道）
汽車 SoC 避免超速 欠速測試 2023-3-22 10:16
中電網 中國電子行業研發工程師一站式服務平臺
關于中電網 廣告招商 聯系我們 招聘信息 友情鏈接 中電網導航 手機中電網 中電網官方微博
Copyright © 2000-2025 中電網 版權所有 京ICP備19016262號-2 京公網安備 11010802037127號
Tel: 010-53682288, 0755-33322333 Fax: 0755-33322099
<rt id="awiou"></rt>
搜索到1條【欠速測試】相關的全部。
查看關鍵詞的分類頻道
中電網官方微博