對(duì)高速鏈路(如PCI Express®)的全面表征需要對(duì)被測(cè)鏈路的發(fā)送端(Tx)和接收端(Rx)進(jìn)行多差分通道的測(cè)量。由于需要在不同通道之間進(jìn)行同軸連接的物理切換,這對(duì)于完全自動(dòng)化的測(cè)試環(huán)境來(lái)說(shuō)是一個(gè)挑戰(zhàn)。引入RF開(kāi)關(guān)矩陣允許多通道測(cè)試中的物理連接切換,并實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化軟件測(cè)試。 PCI Express端口... (來(lái)源:技術(shù)文章頻道)
PCI Express Gen5多差分通道測(cè)量 2025-1-20 11:01
作者:泰克科技全面表征高速鏈路,要求透過(guò)被測(cè)鏈路的多條不同通路執(zhí)行發(fā)射機(jī)(Tx)和接收機(jī)(Rx)測(cè)量,這給全自動(dòng)測(cè)試環(huán)境帶來(lái)了挑戰(zhàn)。PCI Express端口的通路寬度一般為x1、x4、x8和x16,這給全自動(dòng)Tx或Rx測(cè)試帶來(lái)了挑戰(zhàn)。通過(guò)在測(cè)試通道中包括RF開(kāi)關(guān),我們可以在不過(guò)度改變DUT和測(cè)試設(shè)備電纜的情況下實(shí)現(xiàn)... (來(lái)源:技術(shù)文章頻道)
高速鏈路測(cè)試 PCIe 5 自動(dòng)多路測(cè)試 2021-11-17 16:19