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美國(guó)吉時(shí)利宣布增強(qiáng)了其ACS（Automated Characterization Suite，自動(dòng)特征分析套件）軟件，納入了面向半導(dǎo)體可靠性與壽命預(yù)測(cè)測(cè)試應(yīng)用的WLR（wafer level reliability，圓片級(jí)可靠性）備選測(cè)試工具。4.0版以ACS軟件已有的單點(diǎn)和多點(diǎn)并行測(cè)試功能為基礎(chǔ)，增加了對(duì)數(shù)據(jù)庫(kù)的支持，以及最新的RTM（Reliabil... （來(lái)源：新品頻道）
自動(dòng)特征分析套件測(cè)試系統(tǒng)4.0版 2008-5-5 15:24
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