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近日,國際標準化組織(ISO)正式發布了微束分析領域中的一項國際標準:“基于測長掃描電鏡的關鍵尺寸評測方法”(Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Method for evaluating critical dimensions by CD-SEM (ISO 21466)),該標準由中國科學技術大學物理學院和微尺度物質科學國家... (來源:新聞頻道)
半導體線寬檢測 2020-3-16 09:56
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