羅德與施瓦茨為在片器件的完整射頻性能表征提供測(cè)試解決方案，該方案結(jié)合了羅德與施瓦茨強(qiáng)大的R&S ZNA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和FormFactor先進(jìn)的工程探針臺(tái)系統(tǒng)。半導(dǎo)體制造商可以在產(chǎn)品的開發(fā)、認(rèn)證和生產(chǎn)階段執(zhí)行可靠且可重復(fù)的在片器件特性測(cè)試。 整個(gè)在片測(cè)量工作由R&S ZNA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀... （來(lái)源：新聞?lì)l道）
羅德與施瓦茨片器件測(cè)試 2022-8-9 16:46
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