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JTAG是英文“Joint Test Action Group(聯(lián)合測(cè)試行為組織)”的詞頭字母的簡(jiǎn)寫,該組織成立于1985 年,是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準(zhǔn)為IEEE1149.1-1990 測(cè)試訪問(wèn)端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從... (來(lái)源:電子百科頻道)
聯(lián)合測(cè)試行為組織JTAG接口 2012-7-11 15:27
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