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GaN HEMT器件性能的評估,一般包含靜態(tài)參數(shù)測試(I-V測試)、頻率特性(小信號S參數(shù)測試)、功率特性(Load-Pull測試)。靜態(tài)參數(shù),也被稱作直流參數(shù),是用來評估半導(dǎo)體器件性能的基礎(chǔ)測試,也是器件使用的重要依據(jù)。以閾值電壓Vgs(th)為例,其值的大小對研發(fā)人員設(shè)計器件的驅(qū)動電路具有重要的指... (來源:技術(shù)文章頻道)
GaN HEMT器件測試 寬禁帶器件測試 2023-7-11 10:45
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