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惠瑞捷推出Inovys硅片調試解決方案,以滿足更高效調試的需求,加速新的系統級芯片 (SoC)器件的批量生產。惠瑞捷全新的解決方案把革命性的Inovys FaultInsyte 軟件和具有可擴充性和靈活性惠瑞捷V93000 SoC測試系統結合在一起。這是一款集成式解決方案,通過把電路故障與復雜的系統級芯片上的物理缺陷對應... (來源:新品頻道)
Inovys 硅片調試方案V93000平臺系統級芯片(SoC) 2008-6-25 17:30
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