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泰克科技日前發布了全新Keithley S530系列參數測試系統，該系統搭載了KTE 7軟件，提供更多增強功能。S530平臺使半導體制造商為高速增長的新技術增加參數測試功能，同時最大程度地減少資本投入和提高每小時晶圓制造效率。這將降低整體擁有成本，幫助制造商在競爭激烈的新興市場中應對巨大的價格壓力。 ... （來源：新品頻道）
泰克S530 2020-10-23 15:09
吉時利的S530參數測試系統采用了成熟的源和測量技術，可滿足工藝控制監測、工藝可靠性監測以及器件特性分析所需的全部直流和C-V測量。針對高混合測試環境優化設計S530參數測試系統專門針對那些必須處理各種器件和技術的生產和實驗室環境優化設計，具有業內領先的測試規劃靈活性、自動測試功能、探針臺集... （來源：新品頻道）
測試測量S530系列參數測試 2015-3-18 17:30
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