GaN HEMT器件性能的評估,一般包含靜態參數測試(I-V測試)、頻率特性(小信號S參數測試)、功率特性(Load-Pull測試)。靜態參數,也被稱作直流參數,是用來評估半導體器件性能的基礎測試,也是器件使用的重要依據。以閾值電壓Vgs(th)為例,其值的大小對研發人員設計器件的驅動電路具有重要的指... (來源:技術文章頻道)
GaN HEMT器件測試 寬禁帶器件測試 2023-7-11 10:45