羅德與施瓦茨為在片器件的完整射頻性能表征提供測試解決方案,該方案結合了羅德與施瓦茨強大的R&S ZNA矢量網絡分析儀和FormFactor先進的工程探針臺系統。半導體制造商可以在產品的開發、認證和生產階段執行可靠且可重復的在片器件特性測試。 整個在片測量工作由R&S ZNA矢量網絡分析儀... (來源:新聞頻道)
羅德與施瓦茨片器件測試 2022-8-9 16:46