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GaN HEMT器件性能的評估，一般包含靜態(tài)參數測試（I-V測試）、頻率特性（小信號S參數測試）、功率特性（Load-Pull測試）。靜態(tài)參數，也被稱作直流參數，是用來評估半導體器件性能的基礎測試，也是器件使用的重要依據。以閾值電壓Vgs（th）為例，其值的大小對研發(fā)人員設計器件的驅動電路具有重要的指... （來源：技術文章頻道）
GaN HEMT器件測試 寬禁帶器件測試 2023-7-11 10:45
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