前往首頁 聯系我們 網站地圖
高級測試設計 （DFT） 技術通過提高順序翻牌的可控性和可觀察性，提供高效的測試解決方案，以應對更高測試成本、更高功耗、測試面積和較低幾何尺寸下的引腳數。這反過來又提高了SoC的良率，可靠性和可測試性是當今ASIC世界的重要因素。SoC 只不過是在單個硅襯底上集成多個處理器內核、微控制器、接口、... （來源：技術文章頻道）
分層DFT技術 SoC 2022-11-24 09:51
作者：Sunil Bhatt，Chintan Panchal，B. Ashok Kumar先進的測試設計 （DFT）技術提供了高效的測試解決方案，通過提高順序觸發器的可控性和可觀察性來處理更高的測試成本、更高的功耗、更高的測試面積和更小尺寸的引腳數。反過來，這提高了 SoC 的良率。可靠性和可測試性是當今 ASIC 世界的重... （來源：技術文章頻道）
DFT技術 SoC 設計 2022-6-22 09:15
中電網 中國電子行業研發工程師一站式服務平臺
關于中電網 廣告招商 聯系我們 招聘信息 友情鏈接 中電網導航 手機中電網 中電網官方微博
Copyright © 2000-2025 中電網 版權所有 京ICP備19016262號-2 京公網安備 11010802037127號
Tel: 010-53682288, 0755-33322333 Fax: 0755-33322099
搜索到2條【分層DFT技術】相關的技術文章。
查看關鍵詞的分類頻道
中電網官方微博