引言隨著集成電路規(guī)模的不斷擴(kuò)大，從設(shè)計(jì)到流片（Tape-out）的全流程中，驗(yàn)證環(huán)節(jié)的核心地位日益凸顯。有效的驗(yàn)證不僅是設(shè)計(jì)完美的基石，更是確保電路在實(shí)際應(yīng)用中穩(wěn)定運(yùn)行的保障。尤為關(guān)鍵的是，邏輯或功能錯(cuò)誤是導(dǎo)致流片失敗的首要原因，占比高達(dá)50%。功能驗(yàn)證正是解決這一難題的利器，它助力工程師精... （來源：技術(shù)文章頻道）
EsseFCEC EDA 芯天成 思爾芯 2024-8-20 10:42
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