前往首頁 聯(lián)系我們 網(wǎng)站地圖
作者:Edwin Omoruyi,高級應(yīng)用工程師 問題 人工智能(AI)應(yīng)用對高性能內(nèi)存,特別是高帶寬內(nèi)存(HBM)的需求不斷增長,這是否會導(dǎo)致自動測試設(shè)備(ATE)廠商的設(shè)計變得更加復(fù)雜? 回答 AI需要高密度和高帶寬來高效處理數(shù)據(jù),因此HBM至關(guān)重要。ATE廠商及其開發(fā)的系統(tǒng)需要跟上... (來源:技術(shù)文章頻道)
自動測試設(shè)備PhotoMOSAI人工智能 2025-5-29 13:03
作者:Edwin Omoruyi,高級應(yīng)用工程師 摘要 本文提出,CMOS開關(guān)可以取代自動測試設(shè)備(ATE)廠商使用的PhotoMOS®開關(guān)。CMOS開關(guān)的電容乘電阻(CxR)性能可以與PhotoMOS相媲美,且其導(dǎo)通速度、可靠性和可擴展性的表現(xiàn)也很出色,契合了先進內(nèi)存測試時代ATE廠商不斷升級的需求。 簡介 人工智能... (來源:技術(shù)文章頻道)
自動測試設(shè)備應(yīng)用PhotoMOS開關(guān) 2025-2-19 15:00
源極和漏極之間的關(guān)斷電容CDS(OFF)可用來衡量關(guān)斷開關(guān)后,源極信號耦合到漏極的能力。它是固態(tài)繼電器(如PhotoMOS®、OptoMOS®、光繼電器或MOSFET繼電器)中常見的規(guī)格參數(shù),在固態(tài)繼電器數(shù)據(jù)手冊中通常稱為輸出電容COUT。CMOS開關(guān)通常不包含此規(guī)格參數(shù),但關(guān)斷隔離度是表征相同現(xiàn)象的另一種方法... (來源:技術(shù)文章頻道)
固態(tài)繼電器 CMOS開關(guān) ADI 2024-4-22 15:02
作者:Jens Wallmann集成電路 (IC) 降低了硬件開發(fā)成本,促進了電子設(shè)備的小型化并具有廣泛的功能,因此比以往任何時候都更加搶手。為確保大批量生產(chǎn)的質(zhì)量,半導(dǎo)體制造商需要可靠、緊湊的自動測試設(shè)備 (ATE) ,能夠在保持信號低電平、信號高電平且損耗最小的情況下快速開關(guān)高頻 AC 和 DC 電... (來源:技術(shù)文章頻道)
SSR 半導(dǎo)體 自動測試 2024-2-18 10:42
Circuits from the Lab®參考設(shè)計是經(jīng)過測試的參考設(shè)計,有助于加速設(shè)計,同時簡化系統(tǒng)集成,幫助解決當今的模擬、混合信號和RF設(shè)計挑戰(zhàn)。如需更多信息和/或技術(shù)支持,請訪問:www.analog.com/CN0401。 連接/參考器件 ADM3055E 5 kV rms信號和電源隔離CAN收發(fā)器,適用于CAN FD 具有可切... (來源:技術(shù)文章頻道)
電路筆記CN-0401 2023-9-7 16:05
作者:ADI產(chǎn)品應(yīng)用工程師Stephen Nugent源極和漏極之間的關(guān)斷電容CDS(OFF)可用來衡量關(guān)斷開關(guān)后,源極信號耦合到漏極的能力。它是固態(tài)繼電器(如PhotoMOS®、OptoMOS®、光繼電器或MOSFET繼電器)中常見的規(guī)格參數(shù),在固態(tài)繼電器數(shù)據(jù)手冊中通常稱為輸出電容COUT。CMOS開關(guān)通常不包含此規(guī)格參數(shù),... (來源:技術(shù)文章頻道)
CMOS開關(guān) 固態(tài)繼電器 2023-1-17 17:05
中電網(wǎng) 中國電子行業(yè)研發(fā)工程師一站式服務(wù)平臺
關(guān)于中電網(wǎng) 廣告招商 聯(lián)系我們 招聘信息 友情鏈接 中電網(wǎng)導(dǎo)航 手機中電網(wǎng) 中電網(wǎng)官方微博
Copyright © 2000-2025 中電網(wǎng) 版權(quán)所有 京ICP備19016262號-2 京公網(wǎng)安備 11010802037127號
Tel: 010-53682288, 0755-33322333 Fax: 0755-33322099