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--BBS主題帖: 一種適用于鋰電池的電流監(jiān)測(cè)電路設(shè)計(jì)

[font=宋體, arial]　提出了一種適用于鋰電池的電流監(jiān)測(cè)電路，通過在鋰電池供電環(huán)路引入靈敏電阻對(duì)電流進(jìn)行采樣，并使用時(shí)鐘控制開關(guān)電容運(yùn)算放大器和高速比較器，實(shí)現(xiàn)從模擬信號(hào)到數(shù)字信號(hào)的轉(zhuǎn)換。在處理器中進(jìn)行精確電流量的運(yùn)算，能對(duì)過流、短路電流進(jìn)行保護(hù)，也能用于精確計(jì)算電池阻抗、電量等相關(guān)...
2015-01-10

--BBS主題帖: 利用新一代虛擬探測(cè)功能實(shí)現(xiàn)DDR等信號(hào)去嵌測(cè)試

[font=微軟雅黑, Tahoma,]一、內(nèi)存測(cè)試中的難點(diǎn) 內(nèi)存廣泛應(yīng)用于各類電子產(chǎn)品中，內(nèi)存測(cè)試也是產(chǎn)品測(cè)試中的熱點(diǎn)和難點(diǎn)。內(nèi)存測(cè)試中最為關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)目為DQ/DQS/CLK之間的時(shí)序關(guān)系。JEDEC規(guī)范規(guī)定測(cè)量這幾個(gè)信號(hào)之間的時(shí)序時(shí)測(cè)試點(diǎn)需要選擇在靠近內(nèi)存的最末端。而當(dāng)前內(nèi)存芯片大部分是BGA封裝，有的甚...
2014-12-12

--BBS主題帖: IC測(cè)試基本原理與ATE測(cè)試向量生成

[font=微軟雅黑, Tahoma,]集成電路測(cè)試（IC測(cè)試）主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來越大，對(duì)電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高，集成電路的測(cè)試方法也變得越來越困難。因此，研究和發(fā)展IC測(cè)試，有著重要的意義。而測(cè)試向量作...
2014-12-06

--BBS主題帖: 一種適用于鋰電池的電流監(jiān)測(cè)電路設(shè)計(jì)

[font=宋體, arial]提出了一種適用于鋰電池的電流監(jiān)測(cè)電路，通過在鋰電池供電環(huán)路引入靈敏電阻對(duì)電流進(jìn)行采樣，并使用時(shí)鐘控制開關(guān)電容運(yùn)算放大器和高速比較器，實(shí)現(xiàn)從模擬信號(hào)到數(shù)字信號(hào)的轉(zhuǎn)換。在處理器中進(jìn)行精確電流量的運(yùn)算，能對(duì)過流、短路電流進(jìn)行保護(hù)，也能用于精確計(jì)算電池阻抗、電量等相關(guān)參...
2014-11-26

--BBS主題帖: 基于鉑電阻的數(shù)字溫度測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì)

[font=Arial, Helvetica, sans-serif, 宋體][b]0 引言[/b][/font] [font=Arial, Helvetica, sans-serif, 宋體]　　在某企業(yè)開發(fā)的加工控制系統(tǒng)中，溫度范圍是-100℃～600℃，測(cè)量誤差小于1％。針對(duì)本系統(tǒng)所需的溫度測(cè)量要求，選用了精度高的鉑電阻作為溫度傳感器，模數(shù)轉(zhuǎn)換使用 MSP430F149內(nèi)部的12位...
2014-11-25

--BBS主題帖: IC測(cè)試基本原理與ATE測(cè)試向量生成

[font=微軟雅黑, Tahoma,]集成電路測(cè)試（IC測(cè)試）主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來越大，對(duì)電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高，集成電路的測(cè)試方法也變得越來越困難。因此，研究和發(fā)展IC測(cè)試，有著重要的意義。而測(cè)試向量作...
2014-11-22

--BBS主題帖: IC測(cè)試基本原理與ATE測(cè)試向量生成

[font=微軟雅黑, Tahoma,]集成電路測(cè)試（IC測(cè)試）主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來越大，對(duì)電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高，集成電路的測(cè)試方法也變得越來越困難。因此，研究和發(fā)展IC測(cè)試，有著重要的意義。而測(cè)試向量作...
2014-11-05

--BBS主題帖: 穩(wěn)壓二極管伏安特性及曲線

[align=left][color=#000][font=Arial,]穩(wěn)壓管也是一種晶體[url=http://www.eechina.com/keyword/%E4%BA%8C%E6%9E%81%E7%AE%A1]二極管[/url]，它是利用PN結(jié)的擊穿區(qū)具有穩(wěn)定[url=http://www.eechina.com/keyword/%E7%94%B5%E5%8E%8B]電壓[/url]的特性來工作的。穩(wěn)壓管在穩(wěn)壓設(shè)備和一些[url=http://www....
2014-10-30

--BBS主題帖: IC測(cè)試基本原理與ATE測(cè)試向量生成

[color=#333333][font=Arial, Helvetica, sans-serif, 宋體]集成電路測(cè)試[/font][/color][color=#333333][font=Arial, Helvetica, sans-serif, 宋體]（[/font][/color][b]IC測(cè)試[/b][color=#333333][font=Arial, Helvetica, sans-serif, 宋體]）主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品...
2014-10-21

--BBS主題帖: IC測(cè)試基本原理與ATE測(cè)試向量生成

[color=#333333][font=Arial, Helvetica, sans-serif, 宋體]集成電路測(cè)試[/font][/color][color=#333333][font=Arial, Helvetica, sans-serif, 宋體]（[/font][/color][b]IC測(cè)試[/b][color=#333333][font=Arial, Helvetica, sans-serif, 宋體]）主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品...
2014-10-10

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