描述：NI提供的各種產(chǎn)品，可在驗(yàn)證、特性化和生產(chǎn)環(huán)境中設(shè)計(jì)半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)。PXI平臺(tái)提供的緊湊零占地(zero-footprint)測(cè)試系統(tǒng)，結(jié)合模塊化儀器與高級(jí)定時(shí)和同步技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)直流到6.6 GHz的多項(xiàng)測(cè)量。 NI PXI分立元器件測(cè)試系統(tǒng)包含的重要儀器，能夠?qū)w管、二極管、電阻、電容、電感和其它無(wú)源器件進(jìn)行完整的特征記述。系統(tǒng)中，任意波形發(fā)生器可生成模擬測(cè)試模式，源測(cè)量單元(SMU)適合曲線跟蹤和測(cè)量瞬態(tài)響應(yīng)，數(shù)字萬(wàn)用表(DMM)適合電感與電容測(cè)量，開(kāi)關(guān)模塊能夠?qū)C儀器路由至多個(gè)測(cè)試點(diǎn)。 NI PXI分立元器件測(cè)試系統(tǒng)解決方案提供的儀器，適合進(jìn)行分立元器件上的常見(jiàn)測(cè)量（如：I-V弧線跟蹤、電阻、電容與電感特征記述）。結(jié)合NI LabVIEW軟件的這個(gè)方法可快速自定義用戶系統(tǒng)，繼而引入測(cè)量幫助用戶對(duì)特定的分立元器件進(jìn)行特征記述。借助NI系統(tǒng)工程師編寫(xiě)的實(shí)例程序快速啟動(dòng)并運(yùn)行，實(shí)現(xiàn)元器件特征記述中至關(guān)重要的常見(jiàn)測(cè)量。
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