描述：NI提供的各種產品，可在驗證、特性化和生產環境中設計半導體測試系統。PXI平臺提供的緊湊零占地(zero-footprint)測試系統，結合模塊化儀器與高級定時和同步技術，可實現直流到6.6 GHz的多項測量。 NI PXI數模轉換器(DAC)測試系統包含的重要儀器，可對配有最高16位分辨率和200 MS/s采樣率的DAC進行完整特征記述。系統中，高速數字I/O可將測試模式生成至DAC并且生成常用通信協議（SPI、I2C、JTAG），數字化儀能夠捕捉DAC的模擬輸出，源測量單元(SMU)適合常用DC參數測量（開路/短路、泄漏測試），開關模塊能夠將DC儀器路由至多個測試點。 NI PXI DAC測試系統解決方案提供的儀器，既適合在DAC上進行常見測量（如：INL、DNL、SNR、THD、IDD、IDDQ），也適合進行電壓高/低閾值測試。結合NI LabVIEW軟件的這個方法可快速自定義用戶系統，繼而引入特定測量幫助用戶對DAC進行特征記述。借助NI系統工程師編寫的實例程序快速啟動并運行，實現設計特征記述中至關重要的常見測量。
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