描述：NI提供的各種產品，可在驗證、特性化和生產環境中設計半導體測試系統。PXI平臺提供的緊湊零占地(zero-footprint)測試系統，結合模塊化儀器與高級定時和同步技術，可實現直流到6.6 GHz的多項測量。 NI PXI微機電(MEMS)測試系統包含的重要儀器，能夠對MEMS加速計、陀螺儀、麥克風進行完整的特征記述。系統中，源測量單元(SMU)可實現常用DC參數測量（開路/短路、泄漏測試），高精度數據采集模塊可在廣闊的動態范圍內實現精確的聲音與振動測量，高速數字I/O可借由常用通信協議（SPI、I2C、JTAG）連接MEMS設備，開關模塊能夠將DC儀器路由至多個測試點。 PXI MEMS測試系統解決方案向用戶提供所需儀器，在MEMS設備上進行開路/短路、待機電流、參考IDD、正/負連續性測試、泄漏電流、輸入和輸出邏輯閾值、動態測量等常見測量。結合NI LabVIEW軟件的這個方法可快速自定義用戶系統，繼而引入特定測量幫助用戶對MEMS設備進行特征記述。借助NI系統工程師編寫的實例程序快速啟動并運行，實現設計特征記述中至關重要的常見測量。
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