描述：NI提供的各種產(chǎn)品，可在驗(yàn)證、特性化和生產(chǎn)環(huán)境中設(shè)計(jì)半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)。NI PXI平臺(tái)提供的緊湊零占地(zero-footprint)測(cè)試系統(tǒng)，結(jié)合模塊化儀器與高級(jí)定時(shí)和同步技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)直流到6.6 GHz的多項(xiàng)測(cè)量。 NI PXI無(wú)線IC (RFIC)測(cè)試系統(tǒng)包含用戶需要的重要儀器，能夠?qū)β史糯笃?、收發(fā)器、IF接收器、RF前端、調(diào)制器/解調(diào)器和其它RFIC設(shè)備進(jìn)行完整的特征記述。系統(tǒng)中，6.6 GHz矢量信號(hào)分析儀(VSA)和6.6 GHz矢量信號(hào)生成器(VSG)可捕捉或生成常用RF標(biāo)準(zhǔn)（ZigBee、WLAN、WiMAX……），源測(cè)量單元(SMU)適合常用DC參數(shù)測(cè)量（開(kāi)路/短路、泄漏測(cè)試），高速數(shù)字I/O能夠借助常用通信協(xié)議（SPI、I2C、JTAG）在RFIC上捕捉或生成數(shù)字基帶或控制測(cè)試模式，您可根據(jù)需要添加數(shù)字化儀、時(shí)鐘源、功率計(jì)和其它RF設(shè)備。 NI PXI無(wú)線IC (RFIC)測(cè)試系統(tǒng)解決方案向用戶提供所需儀器，在RFIC設(shè)備上進(jìn)行誤差矢量幅度(EVM)、載波泄漏、頻偏等常見(jiàn)測(cè)量，并創(chuàng)建自定義調(diào)試方案（AM、FM、PM、ASK、FSK、MSK、GMSK、PSK、QPSK、PAM、QAM）。結(jié)合NI LabVIEW軟件的這個(gè)方法可快速自定義用戶系統(tǒng)，繼而引入特定測(cè)量幫助用戶對(duì)無(wú)線IC進(jìn)行特征記述。借助NI系統(tǒng)工程師編寫(xiě)的實(shí)例程序快速啟動(dòng)并運(yùn)行，實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)特征記述中至關(guān)重要的常見(jiàn)測(cè)量。
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