描述：NI提供的各種產品，可在驗證、特性化和生產環境中設計半導體測試系統。PXI平臺提供的緊湊零占地(zero-footprint)測試系統，結合模塊化儀器與高級定時和同步技術，可實現直流到6.6 GHz的多項測量。 NI PXI電源管理IC (PMIC)測試系統包含多款用戶需要的重要儀器，可對DC-DC轉換器、低壓差線性穩壓器(LDO)、顯示激勵器和其它電源管理設備進行完整的特征記述。系統中，源測量單元(SMU)可實現常用DC參數測量（開路/短路、泄漏測試），高精度數字化儀和高分辨率任意波形發生器可實現模擬測量，高速數字I/O可借由常用通信協議（SPI、I2C、JTAG）控制PMIC測試模式，開關模塊能夠將DC儀器路由至多個測試點。 PXI PMIC測試系統解決方案向用戶提供在PMIC設備上進行常見測量的儀器，如：開路/短路、待機電流、轉換器效率、線路與負載調節、電源抑制比(PSRR)。結合NI LabVIEW軟件的這個方法可快速自定義用戶系統，繼而引入特定測量幫助用戶對電源管理設備進行特征記述。借助NI系統工程師編寫的實例程序快速啟動并運行，實現設計特征記述中至關重要的常見測量。
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