描述：NI提供的各種產品，可在驗證、特性化和生產環境中設計半導體測試系統。NI PXI平臺提供的緊湊零占地(zero-footprint)測試系統，結合模塊化儀器與高級定時和同步技術，可實現直流到6.6 GHz的多項測量。 NI PXI無線IC (RFIC)測試系統包含用戶需要的重要儀器，能夠對功率放大器、收發器、IF接收器、RF前端、調制器/解調器和其它RFIC設備進行完整的特征記述。系統中，6.6 GHz矢量信號分析儀(VSA)和6.6 GHz矢量信號生成器(VSG)可捕捉或生成常用RF標準（ZigBee、WLAN、WiMAX……），源測量單元(SMU)適合常用DC參數測量（開路/短路、泄漏測試），高速數字I/O能夠借助常用通信協議（SPI、I2C、JTAG）在RFIC上捕捉或生成數字基帶或控制測試模式，您可根據需要添加數字化儀、時鐘源、功率計和其它RF設備。 NI PXI無線IC (RFIC)測試系統解決方案向用戶提供所需儀器，在RFIC設備上進行誤差矢量幅度(EVM)、載波泄漏、頻偏等常見測量，并創建自定義調試方案（AM、FM、PM、ASK、FSK、MSK、GMSK、PSK、QPSK、PAM、QAM）。結合NI LabVIEW軟件的這個方法可快速自定義用戶系統，繼而引入特定測量幫助用戶對無線IC進行特征記述。借助NI系統工程師編寫的實例程序快速啟動并運行，實現設計特征記述中至關重要的常見測量。
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