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2025年9月9日，致力于亞太地區(qū)市場的國際領先半導體元器件分銷商---大聯(lián)大控股宣布，其旗下世平推出以芯馳科技（SemiDrive）E3106 MCU為主，輔以安森美（onsemi）NCV8730低壓差穩(wěn)壓器、恩智浦（NXP）FS5600汽車系統(tǒng)基礎芯片、TJA1044GT/32 CAN收發(fā)器、TJA1022 LIN收發(fā)器等產品的車身控制器開發(fā)板方案。... （來源：解決方案頻道）
大聯(lián)大世平芯馳科技車身控制器 2025-9-9 15:25
在半導體ATE領域深耕多年，派格測控始終致力于為客戶提供高精度、高可靠性的芯片測試解決方案，不斷的提煉行業(yè)客戶的需求，優(yōu)化產品參數(shù)指標，經過數(shù)年潛心鉆研，今天，我們迎來了一次重要的升級——正式發(fā)布自研模塊化儀器儀表！ 為應對日趨嚴峻的國際關系和日趨激烈的行業(yè)競爭，派格... （來源：新品頻道）
派格測控自研模塊化儀器儀表 2025-6-11 14:52
伴隨AI、物聯(lián)網、智能家居、工業(yè)互聯(lián)等應用創(chuàng)新的持續(xù)深入，短距離無線通信技術——藍牙技術的重要性日益凸顯。根據(jù)藍牙技術聯(lián)盟數(shù)據(jù)，全球藍牙設備出貨量將由2023年的50億臺激增至2028年的75億臺，年復合增速預計達8%，將持續(xù)為藍牙芯片規(guī)模出貨打開新的增量空間。 在市場需求驅動下，國... （來源：新聞頻道）
昂瑞微OM6629藍牙射頻 2025-6-6 14:11
近日，榮耀舉辦全場景新品發(fā)布會，正式推出新一代智能穿戴產品——榮耀手環(huán)10。該產品搭載炬芯科技ATS3085L雙模藍牙智能手表SoC芯片。炬芯®ATS3085L是一款雙模藍牙智能手表SoC芯片，采用MCU+DSP的雙核異構設計架構，通過精簡外圍電路實現(xiàn)高集成化設計，具有高集成度、高幀率、低功耗等特... （來源：新聞頻道）
炬芯科技榮耀手環(huán)10 2025-6-4 12:11
作者：Edwin Omoruyi，高級應用工程師 問題 人工智能(AI)應用對高性能內存，特別是高帶寬內存(HBM)的需求不斷增長，這是否會導致自動測試設備(ATE)廠商的設計變得更加復雜？ 回答 AI需要高密度和高帶寬來高效處理數(shù)據(jù)，因此HBM至關重要。ATE廠商及其開發(fā)的系統(tǒng)需要跟上... （來源：技術文章頻道）
自動測試設備PhotoMOSAI人工智能 2025-5-29 13:03
專注于引入新品的全球電子元器件和工業(yè)自動化產品授權代理商貿澤電子 (Mouser Electronics) 宣布與Analog Devices, Inc. (ADI) 合作推出全新電子書《14 Experts Discuss Motor Control in Modern Applications》（14位專家探討現(xiàn)代應用中的電機控制），探討電機控制領域的新趨勢和新挑戰(zhàn)。從工業(yè)機器人... （來源：新聞頻道）
貿澤電子ADI電機控制 2025-5-26 16:02
在中美關稅博弈持續(xù)升級的背景下，中國半導體產業(yè)鏈加速國產替代進程。前諾德公司宣布成功研發(fā)ATE測試機數(shù)字板卡核心芯片——PE系列芯片，成為國內首家實現(xiàn)該領域完全自主可控的企業(yè)。此次突破不僅填補了國內技術空白，更將為中美關稅戰(zhàn)下的中國半導體測試設備行業(yè)提供關鍵支撐。 ... （來源：新聞頻道）
ATE測試機前諾德 2025-4-25 14:34
4月22日，博世半導體和琻捷電子正式簽署戰(zhàn)略合作協(xié)議！雙方將充分發(fā)揮各自資源優(yōu)勢，增強信息、技術共享水平，產生規(guī)模效應，改善相互之間的合作關系，保持相互間的高度信任，提高雙方市場影響力，實現(xiàn)雙方共同發(fā)展，建立長期穩(wěn)定合作關系。 戰(zhàn)略合作儀式合影 雙方將圍繞車載無線解決方案、高... （來源：新聞頻道）
琻捷電子博世汽車電子半導體 2025-4-24 12:48
隨著清潔能源需求增長，太陽能的潛力日益受到關注，太陽能電池通過吸收光子釋放電子，將陽光直接轉化為電能。電氣測試廣泛用于研發(fā)和生產中，以表征其性能，包括直流/脈沖電壓測量、交流電壓測試等，分析關鍵參數(shù)如輸出電流、轉換效率和最大功率輸出，常結合不同光強和溫度條件進行。 4200A-SCS參數(shù)... （來源：技術文章頻道）
泰克光伏材料太陽能電池 2025-2-27 10:45
作者：Edwin Omoruyi，高級應用工程師 摘要 本文提出，CMOS開關可以取代自動測試設備(ATE)廠商使用的PhotoMOS®開關。CMOS開關的電容乘電阻(CxR)性能可以與PhotoMOS相媲美，且其導通速度、可靠性和可擴展性的表現(xiàn)也很出色，契合了先進內存測試時代ATE廠商不斷升級的需求。 簡介 人工智能... （來源：技術文章頻道）
自動測試設備應用PhotoMOS開關 2025-2-19 15:00
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