前往首頁 聯系我們 網站地圖
KLA-Tencor公司(納斯達克股票代碼:KLAC)今天針對10納米以下(sub-10nm)集成電路(IC)器件的開發和批量生產推出四款創新的量測系統:Archer™600疊對量測系統,WaferSight™PWG2圖案晶片幾何特征測量系統,SpectraShape™ 10K光學關鍵尺寸(CD)量測系統和SensArray®HighTemp 4... (來源:新品頻道)
KLA-TencorArcher600WaferSightPWG2SpectraShape 10KSensArrayHighTemp 4mm 2017-3-20 14:18
中電網 中國電子行業研發工程師一站式服務平臺
關于中電網 廣告招商 聯系我們 招聘信息 友情鏈接 中電網導航 手機中電網 中電網官方微博
Copyright © 2000-2025 中電網 版權所有 京ICP備19016262號-2 京公網安備 11010802037127號
Tel: 010-53682288, 0755-33322333 Fax: 0755-33322099