前往首頁 聯系我們 網站地圖
全球領先的自動測試設備和機器人供應商泰瑞達（NASDAQ:TER）宣布推出新一代內存測試平臺Magnum 7H，旨在滿足高性能生成式AI服務器中GPU和加速器所集成的高帶寬內存（HBM）芯片測試的嚴苛要求。Magnum 7H專為大規模HBM堆疊裸片測試而設計，具備高同測數、高速和高精度三大特性。行業領先的HBM制造商已開... （來源：新品頻道）
泰瑞達內存HBM測試平臺Magnum 7H 2025-8-11 15:50
作者：Edwin Omoruyi，高級應用工程師 問題 人工智能(AI)應用對高性能內存，特別是高帶寬內存(HBM)的需求不斷增長，這是否會導致自動測試設備(ATE)廠商的設計變得更加復雜？ 回答 AI需要高密度和高帶寬來高效處理數據，因此HBM至關重要。ATE廠商及其開發的系統需要跟上... （來源：技術文章頻道）
自動測試設備PhotoMOSAI人工智能 2025-5-29 13:03
作者：Edwin Omoruyi，高級應用工程師 摘要 本文提出，CMOS開關可以取代自動測試設備(ATE)廠商使用的PhotoMOS®開關。CMOS開關的電容乘電阻(CxR)性能可以與PhotoMOS相媲美，且其導通速度、可靠性和可擴展性的表現也很出色，契合了先進內存測試時代ATE廠商不斷升級的需求。 簡介 人工智能... （來源：技術文章頻道）
自動測試設備應用PhotoMOS開關 2025-2-19 15:00
日前，ADI召開了2024年二季度財報電話會議，公司CEO Vincent Roche表示，隨著重點任務的強有力執行，ADI季度營收達到了21.6億美元，盈利和每股收益都超出了預期的最高值。隨著第二季度的落幕，ADI相信已經度過了本輪經濟周期的低谷。值得一提的是，與ADI的核心業務密切相關的全球制造業PMI指數正在改善... （來源：新聞頻道）
ADI 2024年二季度電話會議 2024-5-27 09:10
感謝大家的用心參與和反饋 在走過北京、深圳、西安三地之后，2024年芯華章驗證技術巡回研討會來到上海站。這場由于有芯耀輝和芯測，我們上午議程非常豐富。在此鄭重感謝壁仞科技、燧原科技、小鵬汽車、大疆、芯馳科技等幾十家芯片設計和系統公司的驗證工程師，你們每一個人如約出現，都為研討會按時... （來源：新聞頻道）
芯華章技術研討會 2024-5-27 08:45
并通過技術賦能計劃助力拓展CXL生態系統Micron Technology Inc.（美光科技股份有限公司，納斯達克股票代碼：MU）今日宣布已為客戶及合作伙伴出樣美光CZ120內存擴展模塊。該模塊擁有128GB和256GB兩種容量，采用E3.S 2T外形規格，支持PCIe 5.0 x8接口。此外，CZ120模塊能夠提供高達36GB/s的內存讀取/寫入... （來源：新品頻道）
美光 CXL 2．0 內存擴展模塊 2023-8-11 11:03
作者：L. Degli Abbati確保將最高質量的產品運往市場，并保證它們在其生命周期內持續工作，是汽車芯片制造商的首要目標。的確，我們需要大力改進和加強制造測試程序，以使整個芯片種群中的潛在故障少之又少。然而，高質量的生產必須遵循現場可靠性;制定戰略和活動來面對前方生命周期的關鍵問題也具有非... （來源：技術文章頻道）
汽車系統級芯片（SoC）汽車應用 2022-9-28 09:25
GRL通過與FuturePlus的合作伙伴關系，擴大了全球七個實驗室所提供的DDR和LPDDR內存測試服務組合 為高速信號及充電技術提供工程服務和測試自動化解決方案的全球領導者Granite River Labs（簡稱"GRL"）與領先的雙倍數據速率 (DDR)內存調試和驗證工具供應商FuturePlus Systems, LLC宣布共同努力擴大D... （來源：新聞頻道）
DDR內存測試服務 DDR內存 2022-9-16 09:10
作者: 泰克科技世界正在經歷一個前所未有的時代，數據呈爆發增長之勢，隨著新技術在更廣泛的范圍內實現，這一趨勢預計將進一步加快。典型的實例包括：5G形式的下一代無線通信，領域不斷擴展的人工智能和機器學習、物聯網(IoT)、加密貨幣、虛擬現實，甚至汽車等諸多領域。在整個2021年，預計生成的數據達... （來源：技術文章頻道）
DDR5 內存測試內存接口 2022-2-11 15:34
作者：王彥文;薄勇;孫素麗隨著嵌入式產品性能的日益提高，嵌入式系統在消費類電子、汽車、工業控制和通信等行業迅速普及；但由于嵌入式系統開發成本高、研發周期長，使得關鍵技術的加密和重要數據的保密問題日益突出。如何在這些嵌入式系統中采用低成本、高效率的方法保護自己的科研成果不被非法仿制和... （來源：技術文章頻道）
AT88SCxx系列加密存儲芯片 嵌入式系統 2022-1-20 09:43
中電網 中國電子行業研發工程師一站式服務平臺
關于中電網 廣告招商 聯系我們 招聘信息 友情鏈接 中電網導航 手機中電網 中電網官方微博
Copyright © 2000-2025 中電網 版權所有 京ICP備19016262號-2 京公網安備 11010802037127號
Tel: 010-53682288, 0755-33322333 Fax: 0755-33322099
搜索到13條【內存測試】相關的全部。
查看關鍵詞的分類頻道
中電網官方微博