SmartScope M130為生產大型、重型零件制造商帶來新一代增強的圖像精度、光學性能和測量效率。 OGP光學測量影像儀是一家全球領先的工業質量控制領域光學和精密多傳感器測量系統制造商，現隆重推出新一代SmartScope® 3D多傳感器測量系統——SmartScope M130。 對于專注于大型、重... （來源：新品頻道）
OGPSmartScope M130 M傳感器 2025-10-31 17:04
Advanced Energy Industries, Inc. (Nasdaq: AEIS) 一直致力于開發各種先進的高精度電源轉換、測量和控制系統等解決方案，這方面的技術更一直領先全球。該公司宣布推出一系列稱為Impac® Series 600的全新高溫測量平臺，其特點是可用來測量非金屬或金屬涂層的表面溫度，適用于... （來源：新品頻道）
Advanced Energy 高溫測量平臺Impac Series 2020-10-28 10:05
亞德諾半導體 (Analog Devices, Inc.，簡稱ADI) 旗下凌力爾特公司 (Linear Technology Corporation) 推出零漂移運算放大器LTC2063，該器件采用 1.8V 電源時僅吸取1.3μA典型電流 (最大值為2μA)。這個微功率放大器保持不打任何折扣的精準度：在25°C時最大輸入失調電壓為5μV，在–40°C 至 125°C范圍內最大... （來源：新品頻道）
低功耗零漂移運算放大器LTC2063亞德諾半導體 2017-7-11 10:46
KLA-Tencor 公司（納斯達克股票代碼：KLAC）針對 10 納米及以下的掩膜技術推出了三款先進的光罩檢測系統，Teron™ 640、Teron™ SL655 和光罩決策中心 (RDC)。所有這三套系統是實現當前和下一代掩膜設計的關鍵，使得光罩廠和集成電路晶圓廠能夠更高效地辨識光刻中顯著并嚴重損害成品率的缺陷... （來源：新品頻道）
KLA－Tencor掩膜技術光罩檢測系統 2016-8-26 11:42
全球領先的測量解決方案提供商——泰克科技日前宣布，為其PCI Express® (PCIe)套裝測試解決方案提供一系列增強功能，支持16 GT/s數據速率，為業內提供第一個支持PCIe 4.0結構的發射機和接收機自動測試解決方案。 PCIe 4.0技術提高了數據速率，同時也帶來了許多全新的測試挑戰，如通道損耗大大提高... （來源：新品頻道）
泰克PCI Express 4．0測試解決方案 2016-6-30 09:35
KLA-Tencor Corporation推出兩款先進的量測系統，可支持 16 納米及以下尺寸集成電路器件的開發和生產：Archer™ 500LCM 和 SpectraFilm™ LD10。Archer 500LCM 套刻測量系統在提升成品率的所有階段提供了準確的套刻誤差反饋，可幫助芯片制造商解決新的圖型套刻問題，例如多層光刻和隔離層掩膜... （來源：新品頻道）
KLA－Tencor CorporationArcher 500LCMSpectraFilm LD10 2015-3-5 11:16
安捷倫科技公司（NYSE：A）日前宣布推出最新版本的 W1716 Digital Pre-Distortion Builder（DPD）軟件。該軟件將確保無線系統設計具備出色的無線性能，并能夠支持 LTE-Advanced 和 IEEE 802.11ac 等新興寬帶標準。 該軟件通過將用戶的基帶 DPD 算法與可信賴的寬帶測試設備、標準參考和 RF EDA 軟件... （來源：新品頻道）
安捷倫科技W1716 Digital Pre－Distortion Builder 2011-9-13 11:10
美國國家儀器有限公司（NI）為工程師最新提供基于PXI的、有史以來持續流盤速率最高的數據流盤設備，進一步豐富了工業標準的PXI測試測量平臺。這批PXI設備（均基于PXI Express規范）包括模塊化儀器、嵌入式控制器和RAID磁盤陣列，提供高達600 MBytes/s的持續磁盤記錄和回放速度。通過這些全新的數據流盤... （來源：新品頻道）
PXI設備RAID磁盤陣列 2007-9-26 00:00
5月9日訊，Cascade Microtech 將其出色的高性能測量功能（從 DC 到 220GHz）結合到了低成本且靈活的 150 毫米器件測量平臺：M150，該平臺可用于測量從半導體晶圓、IC、印刷電路板及 MEMS 一直到生物科學器件等等 - 所有均在一個平臺上進行。M150測量平臺提供了史無前例的客戶靈活性，可使客戶在幾分鐘內... （來源：新品頻道）
Cascade測量平臺M150 2006-5-11 15:40
NI推出嵌入式設計LabVIEW圖形化編程方式 6月23日,NI公司推出用于嵌入式設計的LabVIEW圖形化編程方式,使現在的工程師和科學家們可以使用NI LabVIEW軟件高端的圖形化編程示例，大大提高了原型化的效率，并極大地縮短了將嵌入式應用配置到32位微處理器的時間。全新的NI LabVIEW嵌入式開發模塊將LabVIEW擴... （來源：新品頻道）
儀器儀表 2005-6-24 15:27
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