描述：NI提供的各種產(chǎn)品，可在驗證、特性化和生產(chǎn)環(huán)境中設(shè)計半導(dǎo)體測試系統(tǒng)。PXI平臺提供的緊湊零占地(zero-footprint)測試系統(tǒng)，結(jié)合模塊化儀器與高級定時和同步技術(shù)，可實現(xiàn)直流到6.6 GHz的多項測量。 NI PXI微機電(MEMS)測試系統(tǒng)包含的重要儀器，能夠?qū)EMS加速計、陀螺儀、麥克風(fēng)進行完整的特征記述。系統(tǒng)中，源測量單元(SMU)可實現(xiàn)常用DC參數(shù)測量（開路/短路、泄漏測試），高精度數(shù)據(jù)采集模塊可在廣闊的動態(tài)范圍內(nèi)實現(xiàn)精確的聲音與振動測量，高速數(shù)字I/O可借由常用通信協(xié)議（SPI、I2C、JTAG）連接MEMS設(shè)備，開關(guān)模塊能夠?qū)C儀器路由至多個測試點。 PXI MEMS測試系統(tǒng)解決方案向用戶提供所需儀器，在MEMS設(shè)備上進行開路/短路、待機電流、參考IDD、正/負連續(xù)性測試、泄漏電流、輸入和輸出邏輯閾值、動態(tài)測量等常見測量。結(jié)合NI LabVIEW軟件的這個方法可快速自定義用戶系統(tǒng)，繼而引入特定測量幫助用戶對MEMS設(shè)備進行特征記述。借助NI系統(tǒng)工程師編寫的實例程序快速啟動并運行，實現(xiàn)設(shè)計特征記述中至關(guān)重要的常見測量。
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