描述：NI提供的各種產品，可在驗證、特性化和生產環境中設計半導體測試系統。PXI平臺提供的緊湊零占地(zero-footprint)測試系統，結合模塊化儀器與高級定時和同步技術，可實現直流到6.6 GHz的多項測量。 NI PXI分立元器件測試系統包含的重要儀器，能夠對晶體管、二極管、電阻、電容、電感和其它無源器件進行完整的特征記述。系統中，任意波形發生器可生成模擬測試模式，源測量單元(SMU)適合曲線跟蹤和測量瞬態響應，數字萬用表(DMM)適合電感與電容測量，開關模塊能夠將DC儀器路由至多個測試點。 NI PXI分立元器件測試系統解決方案提供的儀器，適合進行分立元器件上的常見測量（如：I-V弧線跟蹤、電阻、電容與電感特征記述）。結合NI LabVIEW軟件的這個方法可快速自定義用戶系統，繼而引入測量幫助用戶對特定的分立元器件進行特征記述。借助NI系統工程師編寫的實例程序快速啟動并運行，實現元器件特征記述中至關重要的常見測量。
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