作者:ADI產品營銷經理Richard Houlihan、ADI產品應用工程師Naveen Dhull、ADI首席IC設計工程師Padraig Fitzgerald先進的數字處理器IC要求通過單獨的DC參數和高速數字自動測試設備(ATE)測試,以達到質保要求。這帶來了很大的成本和組織管理挑戰。本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關如何助力一次性通... (來源:技術文章頻道)
MEMS開關 SoC測試 ADGM1001 ATE 2022-11-28 17:02