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作者:ADI產(chǎn)品營銷經(jīng)理Richard Houlihan、ADI產(chǎn)品應(yīng)用工程師Naveen Dhull、ADI首席IC設(shè)計(jì)工程師Padraig Fitzgerald先進(jìn)的數(shù)字處理器IC要求通過單獨(dú)的DC參數(shù)和高速數(shù)字自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)測試,以達(dá)到質(zhì)保要求。這帶來了很大的成本和組織管理挑戰(zhàn)。本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關(guān)如何助力一次性通... (來源:技術(shù)文章頻道)
MEMS開關(guān) SoC測試 ADGM1001 ATE 2022-11-28 17:02
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