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RedCap，也稱為NR-Light，是5G中專為輕量級設備設計的技術。通過縮小帶寬和簡化硬件設計，顯著降低成本并提升能效；同時在保持低延遲的基礎上，滿足可穿戴設備和工業物聯網等對基本通訊性能的需求。它在不犧牲關鍵5G特性的前提下，實現了輕量化和高性價比的連接方案。 RedCap芯片在測試方面與常規5G... （來源：技術文章頻道）
5GRedcap 2025-9-24 11:02
作者：ADI產品營銷經理Richard Houlihan、ADI產品應用工程師Naveen Dhull、ADI首席IC設計工程師Padraig Fitzgerald先進的數字處理器IC要求通過單獨的DC參數和高速數字自動測試設備(ATE)測試，以達到質保要求。這帶來了很大的成本和組織管理挑戰。本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關如何助力一次性通... （來源：技術文章頻道）
MEMS開關 SoC測試 ADGM1001 ATE 2022-11-28 17:02
高級測試設計 （DFT） 技術通過提高順序翻牌的可控性和可觀察性，提供高效的測試解決方案，以應對更高測試成本、更高功耗、測試面積和較低幾何尺寸下的引腳數。這反過來又提高了SoC的良率，可靠性和可測試性是當今ASIC世界的重要因素。SoC 只不過是在單個硅襯底上集成多個處理器內核、微控制器、接口、... （來源：技術文章頻道）
分層DFT技術 SoC 2022-11-24 09:51
日前，泰瑞達中國區銷售副總經理黃飛鴻結合芯片測試市場的發展趨勢，介紹了泰瑞達最新的UltraFLEXplus系列產品，該產品可顯著加速芯片的測試流程和效率。摩爾定律給芯片測試也帶來了挑戰眾所周知，隨著摩爾定律的不斷演進，芯片工藝尺寸越來越小，功能也越來越復雜，這種趨勢不但給設計和制造帶來了挑戰... （來源：技術文章頻道）
芯片測試 摩爾定律 2022-1-17 13:31
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